Am 15. Juli 2010 fand unter der Motto „Zuverlässigkeit elektronischer Produkte“ erneut ein Fachsymposium der SGS Germany GmbH in München statt. Dass die Thematik den Puls der Zeit traf, bestätigte die positive Resonanz der Gäste. Die Veranstaltung war bereits innerhalb kürzester Zeit ausgebucht. Nachfolgend finden Sie alle Fachvorträge der jeweiligen Referenten.

Vorträge zum Download

(Zum Download bitte den farblich hinterlegten Link anklicken)

Die Vorträge stehen bis 20. August 2010 zum Download bereit.

• Begrüssung und Einleitung - Vorstellung SGS Germany GmbH als Prüfdienstleister 
• Umweltsimulation - Vorstellung klassischer Prüfungen, Standards und Techniken
• Lifetime Approval - Aussagen zur Lebensdauer über Umweltsimulation (Mathematische Betrachtung, MTBF-Berechnung)
• Geeignete Teststrategien aus Lebensdaueranforderungen entwicklen
• Präventive Fehler- und Schadensanalytik zur Vermeidung von Rückrufen
• Ausfallmechanismen mikroelektronischer Bauelemente und deren Analyse
• HALT/HASS - Frühzeitige Optimierung von Zuverlässigkeits-Indikatoren
• Qualitätssicherung / Zuverlässigkeit von Photovoltaik-Modulen