|
Ausgebucht! 15. Juli 2010
Die Veranstaltung in Form eines Fachsymposiums ist bereits ausgebucht.
Anmeldungen sind ab leider nicht mehr möglich, da unser Seminar vollständig ausgebucht ist. Gern können Sie sich unverbindlich für eine Folgeveranstaltung vormerken lassen.
Kontakt:
Diese E-Mail-Adresse ist gegen Spambots geschützt! JavaScript muss aktiviert werden, damit sie angezeigt werden kann.
=================================================
Das SGS Center for Quality Engineering öffnet am 15.07.2010,von 09:30 Uhr bis ca. 16.30 Uhr, seine "Labortüren" und lädt herzlich zum Fachsymposium "Zuverlässigkeit elektronischer Produkte" ein.
Während unseres Fachsymposium hören Sie Vorträge zu interessanten Themen aus den Bereichen
- Umweltsimulation
- Lebensdauertests
- Schadens- und Fehleranalytik
- Bedeutung der Zuverlässigkeit für Zulieferer
- Qualitätssicherung / Zuverlässigkeit von Photovoltaik-Modulen
Für unsere Fachvorträge konnten wir auch externe Referenten gewinnen, die Ihnen selbstverständlich im Anschluss an ihre Vorträge für Fragen oder weiterführende Gespräche zur Verfügung stehen. Zudem haben Sie die Möglichkeit, einen Blick "hinter die Laborkulissen" zu werfen. Hierzu bieten wir spezielle Laborführungen an.
Agenda
| ab 09:00 Uhr |
|
Get together, Registierung |
| 09:15-09:30 Uhr |
|
Begrüssung und Einleitung
(Tilman Heinisch, SGS Germany GmbH) |
| 09:30-10:15 Uhr |
|
Umweltsimulation
Vorstellung klassischer Prüfungen, Standards und Techniken
(Udo Alt, SGS Germany GmbH) |
| 10:15-11:15 Uhr |
|
Mathematische Bestimmung der Ausfallraten von Baugruppen und Systemen
Mathematische Betrachtung, MTBF-Berechnung
(Dr. Maksim Gladkov, SGS Germany GmbH) |
|
|
Geeignete Teststrategien aus Lebensdaueranforderungen entwickeln
(Laura Garcia-Baglietto, SGS Germany GmbH) |
|
|
| 11:15-12.00 Uhr |
|
Schadens- und Fehleranalyse
(Dr. Olaf Günnewig, SGS INSTITUT FRESENIUS GmbH) |
| 12:00-13:00 Uhr |
|
Mittagsbuffet |
| 13:00-13:45 Uhr |
|
Fehlermechanismen bei kleinen Geometrien
(n. n.)
|
| 13:45-14:30 Uhr |
|
Bedeutung der Zuverlässigkeit für Zulieferer
(Edwin Dietel, Continental Automotive GmbH) |
| 14:30-15:00 Uhr |
|
Kaffeepause |
| 15:00-15:45 Uhr |
|
Qualitätssicherung / Zuverlässigkeit von Photovoltaik-Modulen
(n. n.) |
|
|
|
| Kosten: |
|
69,00 € zzgl. MwSt. |
| Anmeldeformular: |
|
ausgebucht - Deshalb sind keine Anmeldungen mehr möglich. |
| Anmeldefrist: |
|
ab sofort bis 30.06.2010 |
| Kontakt: |
|
Diese E-Mail-Adresse ist gegen Spambots geschützt! JavaScript muss aktiviert werden, damit sie angezeigt werden kann.
, T: +49 89 787475-103 |
|
|
Wir behalten uns Änderungen im Zeitplan und bei der Wahl der Referenten vor. Ein Rechtsanspruch zur Durchführung der Veranstaltung besteht nicht. |
|
Service 
